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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體失效分析系統(tǒng)-微光顯微鏡Thermal-F1 熱發(fā)射顯微鏡 C14229-01
產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-05-09
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
訪問量：433
服務(wù)熱線
產(chǎn)品分類
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“Thermal-F1"是熱發(fā)射顯微鏡的第二代產(chǎn)品。顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)可以實現(xiàn)軟件自動控制，在同類產(chǎn)品中擁有較佳靈敏度，高幀率鎖定熱成像（Thermal-lock in）， 測試領(lǐng)域能夠廣泛地覆蓋從芯片級到板級器件的客戶需求。
產(chǎn)品特性
高靈敏度
定制設(shè)計的低噪聲InSb像機具有熱鎖定功能（Thermal lock-in），可實現(xiàn)世界的靈敏度
相機使用斯特林冷卻方式制冷，偵測范圍為3.7μm至5.2μm，可與放大器無縫集成，以降低噪音并精確定位熱輻射。
大視野
設(shè)備軟件包含拼接功能，光學(xué)系統(tǒng)能夠自動運動實現(xiàn)拼接。即便客戶樣品較大仍無懼挑戰(zhàn)。
靈活便捷的設(shè)計
靈活的樣品擺放平臺設(shè)備精致小巧，能夠滿足客戶不同大小尺寸的樣品點針和加電。
產(chǎn)品應(yīng)用:
● 金屬短路
● 阻值異常
● 電介質(zhì)漏電
● 整個器件上的溫度高低值的分布探測
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